導語

在精密光學領域，有一個讓無數工程師和科研人員夜不能寐的“幽靈"——“By Design"（按設計值）。

當你拿到一片標稱OD7甚至OD8的高性能濾光片，放進實驗室的分光光度計一測，結果卻是一片噪點，底噪卡在OD5-OD6動彈不得。此時，供應商告訴你：“放心，這是設備測不出來，我們的設計值是達標的。"

你敢信嗎？

在LIDAR、拉曼光譜和流式細胞術等應用中，0.1nm的偏差或萬分之一的漏光都可能導致系統失效。“測不到"不代表“不存在"，但也可能代表“不合格"。

今天，我們來聊聊Alluxa如何用自研的HELIX™光譜分析系統，撕開“測不準"的迷霧，讓OD9（-90dB）的深層阻斷和0.1nm的超窄帶寬無處遁形。

一、傳統測量的“阿喀琉斯之踵"

在深入HELIX之前，我們需要先理解為什么市面上昂貴的雙單色儀分光光度計，在面對高性能濾光片時會顯得力不從心。

這并非設備低端，而是物理原理的權衡（Trade-off）。

魚與熊掌不可兼得：光強 vs 分辨率

傳統分光光度計通過衍射光柵和狹縫來分光。

• 想要高分辨率？ 你必須縮小狹縫寬度。但這會大幅減少光通量，導致信噪比（SNR）跳水，底噪瞬間抬升，深層截止（Blocking）根本測不到。

• 想要測深層截止？ 你必須放大狹縫、移除光闌以增加光強。但這會犧牲光譜分辨率（SBW變寬），導致原本陡峭的邊緣被“抹平"（Smearing），超窄帶的波峰變圓、透過率變低。

致命的“平均效應"

除了狹縫，光斑大小（Spot Size）和入射錐角（f-number）也是由于。

薄膜濾光片對角度極其敏感。傳統設備為了獲得足夠的光，往往使用較大的光斑和較小的f數（大錐角）。這意味著光線以不同的角度穿過濾光片，探測器接收到的是不同角度光譜的“平均值"。

結果就是：邊緣模糊，帶寬失真，峰值塌陷。

痛點總結：絕大多數商用設備，只能在OD2-OD3的水平上分辨陡峭邊緣，或者在OD6的底噪上勉強看個大概。對于OD7以上的世界，它們是“盲"的。

二、HELIX™：為打破極限而生

既然市面上的尺子量不準我們的布料，那就自己造一把尺子。

Alluxa工程團隊開發的 HELIX™光譜分析系統，并不是對傳統設備的簡單改良，而是一次架構級的重構。它巧妙地結合了高功率激光源與雙單色儀系統。

圖 2：基于雙單色儀的分光光度計簡化示意圖

核心突破：

• 高強度準直光源：解決了“光強"與“分辨率"的矛盾。即使在較高的光譜分辨率下，依然能保持較高的信噪比。

• 大f數與小光斑：較大限度減少了角度效應和空間均勻性帶來的誤差，還原濾光片最真實的物理特性。

HELIX的實測能力有多強？

• 截止深度：可評估至 OD9 (-90 dB)。

• 邊緣追蹤：可從90%透過率一路追蹤至 OD7，且邊緣陡度可分辨至0.4%。

• 超窄帶寬：可解析 0.1 nm FWHM 的超窄帶通。

• 波長精度：高達 ± 0.05 nm。

三、實測見真章：HELIX眼中的光學真相

光說參數不直觀，我們通過幾組實測對比，看看HELIX到底能看到什么。

1. 揭秘“方波"：超窄帶濾光片的真容

在LIDAR和太陽能成像應用中，高腔數的超窄帶濾光片理論上應該呈現優秀的“方波"形狀——平頂、陡邊。但在傳統設備下，它們往往被測成了一個圓潤的“高斯峰"，透過率也顯得很低。

圖 6：1083 納米高腔數超窄帶通濾光片的測量結果對比圖 ——HELIX 系統測得的數據顯示，該濾光片的通帶呈盡數可分辨的方波型，且邊緣檢測可達 OD7（-70 dB）級陡峭衰減

HELIX實測（上圖）：你可以清晰地看到一個優秀的矩形波。HELIX完整解析了0.1nm級別的帶寬，邊緣筆直地切入OD7的深淵。這證明了濾光片的鍍膜工藝優秀復刻了設計理論，而不是被測量設備“冤枉"了。

2. 追蹤“深淵"：OD9級截止的驗證

對于熒光成像或流式細胞術，激發光和發射光的隔離度至關重要。如果濾光片有微小的針孔或鍍膜缺陷，就會導致漏光，破壞信噪比。

圖 5：高性能熒光濾光片的測量結果對比圖 —— 該濾光片采用陡峭邊緣設計，截止率優于 OD8（-80 dB）；HELIX 系統測得的數據顯示，濾光片邊緣檢測分辨率可達 OD7（-70 dB），且具備全域 OD8 級截止性能

HELIX實測（上圖）：注意看光譜的底部。傳統設備在OD6就變成了一條雜亂的直線（噪聲基底），而HELIX的曲線依然在向下延伸，清晰地展示了OD9（十億分之一透過率）級別的阻斷能力。

這意味著，Alluxa不僅能設計OD9，更能證明它做到了OD9。

3. 決勝“邊緣"：拉曼光譜的毫厘之爭

拉曼光譜應用中，目標信號與瑞利散射信號（激光線）往往只相差不到1nm。這就要求濾光片必須在極窄的范圍內，從90%透過率迅速跌落到OD6以上。

圖 4：拉曼激光雷達濾光片的測量結果對比圖 —— 該濾光片邊緣斜率設計指標為：從 90% 透射率衰減至 OD4（-40 dB）區間，斜率＜邊緣波長的 0.1%；兩片同款濾光片串聯使用時，可實現對 532 納米瑞利散射信號的 OD8（-80 dB）級截止；HELIX 系統對該濾光片邊緣的檢測分辨率可達 OD7（-70 dB）

HELIX實測（上圖）：HELIX成功解析了陡度小于0.4%的邊緣過渡。對于那些需要串聯使用以達到OD8以上阻斷的系統來說，這種對邊緣波長的精確把控，是系統能否工作的決定性因素。

四、為什么你需要“看得見"的性能？

在精工光學系統中，“By Design"是一種博弈，而“Measured"是一種保障。

1.消除系統集成的隱患：

如果你的LIDAR系統信噪比不達標，是因為探測器不行，還是濾光片漏光？有了HELIX的實測數據，你可以排除濾光片的不確定性，快速定位問題。

2.質量控制的閉環：

鍍膜過程中的微小偏差、針孔或表面缺陷，都會影響最終性能。HELIX能夠識別出那些“設計優秀但制造有瑕疵"的產品，確保交付到客戶手中的每一片濾光片都是經過嚴苛驗證的。

3.挑戰物理極限的信心：

當你需要定制帶寬小于0.5nm、截止深度大于OD8的極限濾光片時，只有具備相應測量能力的制造商，才值得信賴。

結語

測量能力的邊界，就是制造能力的邊界。

Alluxa不僅在薄膜沉積技術上通過SIRRUS™等離子沉積工藝實現了突破，更通過HELIX™光譜分析系統，補齊了精工光學制造的收官一塊拼圖。

我們拒絕“盲盒"式的交付。無論你是需要分辨拉曼光譜的微弱信號，還是在LIDAR中通過強背景光提取回波，HELIX系統都能為你提供最真實、精準的光譜數據。

因為在光學的世界里，眼見為實。

• 想要驗證您的濾光片真實性能？

Alluxa提供從設計、鍍膜到精密測量的全流程服務。如果您對超窄帶、超陡邊緣或深截止濾光片有特殊需求，歡迎聯系我們的工程師團隊。

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